ELVAX S LAB
Mini laboratório para análise de alta precisão, de acordo com a diretiva RoHS
Aplicações:
- Diretiva RoHS e WEEE
O ElvaX S Lab é projetado especialmente para análise de produtos petroquímicos para verificação de enxofre em ampla faixa de concentração de 2 ppm a 5%. Muitos padrões internacionais descrevem o método de análise de enxofre em combustível e óleo. O enxofre forma sulfatos prejudiciais nos gases de escape dos veículos e polui a atmosfera com óxidos de enxofre. Além disso, o enxofre reduz a estabilidade do combustível e afeta o desempenho do motor. O nível máximo admissível de enxofre no combustível diminui a cada ano. A diretiva 2003/17/CE (ou EURO VI) exige uma quantidade máxima de enxofre no combustível de 10 ppm. O Analisador de Enxofre em Óleo ElvaX cumpre integralmente os requisitos da ASTM D4294, ISO 8754, ISSO 20847, IP 336, ASTM D6445.
Sensibilidade: Graças a um detector SDD altamente sensível, o instrumento permite detectar elementos perigosos em concentrações dez vezes inferiores ao mínimo aceitável pela diretiva RoHS
Velocidade: a medição leva apenas alguns segundos, porque o dispositivo possui um processador de pulso digital de alta velocidade com tecnologia DAS e um filtro de conversão especialmente projetado
Funcionalidade: Câmera de vídeo, trocador de colimador de 5 posições de 1 a 10 mm, computador e impressora embutidos, possibilidade de operação com todos os recursos quando conectado a um PC
Benefícios
- Alta velocidade e precisão
- Interface intuitiva
- Capacidade de trabalhar autonomamente
- Compacto, não ocupa muito espaço na mesa
- Design ergonômico
- Vidro de chumbo possibilitando exposição da análise ao cliente
A análise de fluorescência de Raios-X supera os demais métodos analíticos em termos de velocidade, precisão e simplicidade. É um método não destrutivo, no qual a análise é direcionada ao ponto de interesse. O diâmetro de um ponto analítico pode ser facilmente alterado.
Especificações
- Fonte de Raios-X digital DigiX-40 (DigiX-50 é opcional)
- Ânodo: W
- Tensão: 40 kV (50 kV é opcional)
- Corrente: 200 μA
- Potência: 4 W
- Trocador de colimador de 5 posições de 1 a 10 mm
Detector de Raios-X
- Tipo: Si-PIN (detector Fast SDD opcional)
- Área: 6 mm2 para detector Si-PIN (30 mm2 para detector SDD)
- Resolução de Energia: 165 eV para Mn em Kα para detector Si-PIN (140 eV eV para Al em Kα para detector SDD)
- Taxa de contagem: 500.000 cps
Eletrônica
- DPP: DAS (modelagem dinamicamente adaptável)
Geral
- Dimensões: 280 × 385 × 200 mm
- Câmara analítica: 185 × 212 × 90 mm
- Peso: 7 kg
- Fonte de alimentação: 90 - 240 V, 50/60 Hz
- Consumo de energia: 40 W
- Bateria: 6 horas de operação contínua
- Impressora térmica: opcional
Software
- Sistema operacional: Windows CE
- Análise Quantitativa: Método dos Parâmetros Fundamentais (FPA), Calibrações Empíricas
Conectividade
- Transferência de dados: 2 portas USB, cartão Micro SD, Ethernet
- Entrada de dados: tela sensível ao toque, teclado, mouse
- Tela: 5”. 800 x 480
